JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения в Москве

Компания ООО «СИТЭК» предлагает товар JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения в Москве. Для того, чтобы узнать цены и купить JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения, воспользуйтесь формой обратной связи, закажите обратный звонок, либо свяжитесь с менеджерами компании по телефону +7 (495) 532-09-99.

РЭМ с термополевым катодом, высокого разрешения с супергибридной объективной линзой. Пространственное разрешение - 0,7 нм при 15 кВ; 0,7 нм при 1 кВ; 3нм при 15 кВ, на рабочем отрезке 10 мм и токе зонда 5 нА (режим анализа). Электронная пушка - термополевая, типа Шоттки. Ускоряющее напряжение - от 0,01кВ до 30 кВ. Диапазон токов пучка - до 500 нA. Диапазон увеличений - от х25 до х1000000. Столик образцов - большой, эвцентрического типа, диапазон перемещений: Х: 70мм, Y: 50мм, Z: от 2 до 25 мм. Наклон от -5 до +70 градусов. Вращение 360 градусов.

Фирма-изготовитель: JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)

JEOL Ltd. — мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов(РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

Микроскоп JEOL JSM 7800F позволяет исследовать широкий спектр материалов позволяя получать изображения с очень высоким разрешением. Это достигается за счет технических решений примененных при создании микроскопа. В электронно-оптической колонне реализовано технология Shottky In-Lens FEG заключающая в том, что катод находится внутри конденсорной линзы это позволяет более эффективно, по сравнению с обычным размещением катода, собирать эмитируемы с катода электроны и фокусировать их.

Супергибридная объективная линза позволяет значительно уменьшить хроматические и сферические аберации, что позволяет существенно улучшить разрешение, особенно при малых ускоряющих напряжениях. Микроскоп оснащен системой Gentle Beam (GB) которая позволяет уменьшать скорость электронов падающего пучка и ускорять испускаемые электроны, что существенно улучшает соотношение сигнал/шум и позволяет значительно улучшить качество изображения при низких ускоряющих напряжениях.

Микроскоп оборудован 4-мя типами детекторов: верхний детектор электронов, верхний детектор вторичных электронов, детектор обратно отраженных электронов и нижний детектор вторичных электронов. Перед верхним детектором электронов установлен энергетический фильтр, который позволяет варьировать количество вторичных и обратно отраженных электронов, попадающих в детектор, путем выделения диапазона энергии электронов проходящих через фильтр. При этом не прошедшие через фильтр электроны детектируются верхним детектором вторичных электронов. Применение энергетического фильтра позволяет контрастировать на изображении области одинакового состава, но различные по плотности.

Супергибридная объективная линза не оказывает магнитного воздействия на образец, что позволяет без затруднений исследовать даже сильно магнитные материалы, например, такие как NdFeB с помощью аналитических приставок.

Посмотреть JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения на сайте поставщика

Наличие:

Под заказ

Способ доставки:

Доставка транспортной компанией, Самовывоз

Способ оплаты:

Безналичный расчет